粒度粒形

時間:2014-12-03    瀏覽:5822次

激光光散射技術-

利用激光光散射技術可以測出微粒的光散射信號,然后通過Mie氏散射理論和Fraunhofer衍射理論進行運算后可以得到顆粒的粒度分布。Saturn Digisizer II是我們分辨率最高的粒度測量儀。Saturn Digisizer極高的分辨率,使得我們能測量出您樣品中極小的粒徑分布差異。測量范圍為0.02um到2000um。Saturn Digisizer分析報告

X射線光投射沉降粒度分析技術-

X射線光投射沉降粒度分析技術,利用顆粒在液體介質中沉降時,會自然的按照顆粒尺寸的大小分級沉降的特性。通過把不同大小的顆粒分級后測試,就能用軟X-射線測出每一級顆粒的質量分數。這臺Sedigraph III Plus的測試范圍是0.1um到300um。樣品測試報告

電阻法顆粒計數與粒度分析儀-

電阻法來源于庫爾特(Coulter)原理,是在一個毛細小孔的兩側加上一對連接起來的電極,并把這個體系浸入電解質溶液中。當電解質溶液流動時,顆粒就會通過小孔流動,二個電極收到的電信號會隨著通過小孔的顆粒體積而變化。此種測試手段不但可以測試顆粒的大小,也可以測定顆粒通過小孔的數量進而得到顆粒的濃度。當前,我們使用Elzone 5390做這類測試,測試范圍是0.5um到300um。樣品測試報告

粒形-

顆粒形狀對最終產品的性能參數有著很重要的影響,舉幾個簡單的例子比如說調色劑和墨水噴出時的霧化狀態和流動性,研磨劑的研磨效率,藥品的生物有效性。有好幾種技術手段都能測量顆粒形狀,對這些技術手段測定的數據進行分析時候,大家會發現用這些數據推斷顆粒形狀的運算方法無窮無盡。麥克儀器分析服務中心使用光學顯微鏡、掃面電子顯微鏡和動態圖像分析方法來測定顆粒的形狀參數。動態圖像分析法是利用顆粒通過高分辨率CCD探測器的探測區域時,捕捉顆粒的圖像來進行探測的。當CCD探頭拍到圖像之后,我們可以應用不同的形狀計算模型來計算顆粒的粒徑分布。這種顆粒測試的儀器叫做顆粒粒形分析儀。測試范圍是3微米到300微米。

費氏粒度測試- 

HEL全自動費氏粒度測試儀(SAS)是用來測量透氣性粒子大小領域的一個新產品。這臺儀器是對費歇爾微粉粒度分析儀(FSSS)直接改進后的后繼產品。全自動費氏粒度測試儀的原理是,在空氣氣流通過樣品粉末床層時,氣流的壓力會下降。通過改變樣品的床層高度,能得到樣品床層的孔隙率。而平均比表面積、粒徑尺寸是由床層二端的壓力差,經過卡門公式運算之后得出的。這臺儀器的測量范圍是0.2微米到75微米。壓縮精度小于0.05毫米。

注:目前實驗室暫無X光沉降粒度分析儀,暫不提供該項測試。